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产品名称:
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪/HIOKI 3532-50LCR测试仪
产品型号:
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪
产品展商:
时代仪器
简单介绍
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明：LCR测试仪 3532-50元器件测量,LCR测试仪 3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,HIOKI3532-50 LCR测试仪 测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整,可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。HIOKI3532-50 LCR测试仪 操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来,LCR测试仪 3532-50基本参数
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| 日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪/HIOKI 3532-50LCR测试仪的详细介绍 |
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪 说明：
LCR测试仪
3532-50元器件测量
LCR测试仪
3532-50搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来
LCR测试仪
3532-50基本参数
| 测量参数
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│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
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| 测量方法
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测量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA
(1MHz～5MHz)，或恒压10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)
检测：电压，AC
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| 测量频率
| 42Hz～5MHz
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| 测量量程
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│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF
L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999
Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
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| 基本精度
| │Z│: ± 0.08%
rdg.，θ: ± 0.05°
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测量时间│Z│的典型值
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快速：5ms～ 慢速2：140ms
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| 显示
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最大显示值99999，LCD背光功能
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| 比较器功能
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设定：上、下限值，百分比或绝对值
输出：3档（高，中，低），开路集电极，绝缘
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| 外部打印
| 9442
（与9443/9446/9593-01同时使用）
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| 电源供应
| 100～240V AC
50/60Hz
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| 体积及重量
| 352宽 &time;
124高 &time; 323厚mm，6.5kg
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| 附件
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电源线（1），保险丝（1） |
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