简单介绍：
测厚双晶纵波探头,双晶纵波探头，配套超声波测厚仪，用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块，连接到探头线的两个接口为 C5插座。
详情介绍：
测厚双晶纵波探头
双晶纵波探头，配套超声波测厚仪，用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块，连接到探头线的两个接口为 C5插座。
测厚双晶纵波探头
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频率 |
型号 |
接触面直径 |
测量范围 |
配套测厚仪 |
插座 |
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5 |
5P10FG-J |
14 |
0.75～500 |
CTS-400型 |
双C5插座 |
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5P10FG |
1～300 |
||||
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15P10T |
13.4 |
1.2～200 |
CTS-300型 |
直接连到测厚仪 |