产品分类
联系人:刘水红

电话:0755-82515004

手机:13760205028

公司地址:深圳市福田区深南中路3037号南光捷佳大厦
Email:liu56817@126.com
QQ:528642442
所在位置: 首页> 公司新闻> 其它>

温升测试的干扰

日期:2024-05-20 00:25
浏览次数:520
摘要:温升测试的干扰,运用上述方法尤其要注意一点:测试电路与记录仪内部电路之间,通过光电耦合绝缘,可以大幅度减低从传感器来的共模干扰,即使不慎在传感器上加了高压,也不至破坏记录仪, 或对操作人员造成伤害!

温升测试的干扰

电源行业温升测试的难点在于:
热电偶产生的热电势信号非常微小。
随着变频器的普及,测试环境变得越来越恶劣。

温度记录仪抑制干扰的对策:
使用高共摸抑制比、高串模抑制比、高共模耐压测试设备。
测试电路与内部电路的绝缘方式(光电耦合绝缘*佳)。
采用积分型A/D,在对模拟量进行A/D转换时,先对模拟信号进行积分运算。
针对不同工频干扰频率,设定合适测量周期。
同时使用 一阶低通滤波与A/D积分的方式。
区别于常规扫描型模块,独立A/D测试模块能有效去除通道切换造成的影响。
热电偶前端与被测点绝缘能有效抑制共摸干扰。
热电偶线采用双绞屏蔽线、采用电磁屏蔽措施。
使用温度变送器(4mA-20mA输出)、外置滤波电容等。
运用上述方法尤其要注意一点:测试电路与记录仪内部电路之间,通过光电耦合绝缘,可以大幅度减低从传感器来的共模干扰,即使不慎在传感器上加了高压,也不至破坏记录仪, 或对操作人员造成伤害!