X射线镀层测厚仪XULM 240货号604-770
日期：2024-04-26 14:19
浏览次数：779
摘要：X射线镀层测厚仪XULM 240货号604-770用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统。配备微聚焦射线管，手动X-Y轴工作台，
X射线镀层测厚仪XULM 240货号604-770
硬件：用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统。
配备微聚焦射线管，手动X-Y轴工作台，
4个电机驱动的视准器组，
尺寸分别为：
圆形直径0.1/0.2方形0.05×0.05mm
和槽型0.03×0.2mm。
配备3种可切换的滤波器，
以达到*佳的测量灵敏度。
X-射线由下往上。
高清晰度彩色摄像头。
计算机系统：
英特尔处理器，预装Win10
以及WinFTM测量软件
19英寸彩色液晶显示器
12纯元素片：
(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)
仪器安装：维修工程师现场安装调试与培训。