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  • 产品名称：HP系列四探针探头

  • 产品型号：HP-501，HP-502，HP-50,3，HP-504
  • 产品厂商：深圳时代之峰科技有限公司
  • 产品文档：
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简单介绍：
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜…等同类物质的薄层电阻。
详情介绍：

HP-501型四探针探头

 HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜…等同类物质的薄层电阻。
HP-504型四探针探头
1;特制之手握式探笔
2;球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3;探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4;探头使用寿命长
5;探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

HP-501型四探针探头

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

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