JD-2003激光测厚仪，JD-2003激光测厚系统
JD-2003激光测厚仪，JD-2003激光测厚系统
JD-2003激光测厚系统在工业生产中的非接触、在线测量中，对于提高产品的质量、生产效率及**保障等方面均发挥着非常重要的作用。JD-2003激光测厚系统可以完成许多用接触式测量手段无法完成的检测任务。经过多年的科技攻关研发出各种测量系统。
JD-2003激光测厚系统在膜厚测量上的应用
JD-2003激光测厚系统的优点：精度高，不受被测物的材料、质地、型状、反射率的限制。从白色到黑色，从金属到陶瓷、塑料都可以测量。
激光测厚仪，
JD-2003激光测厚系统技术参数
测量范围 | <3mm |
分辨率 | 0.001mm |
精度 | ±0.003mm |
光源波长 | 0.65mm |
光针直径 | ~200mm |
测量速度（曝光时间） | 0.0001秒 |
工作温度 | 0~40℃ |
激光防护等级 | 3B |
电源电压 | 220v |
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